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大塚電子株式会社の新製品、光波動場三次元顕微鏡「MINUK」をご紹介します。

今まで見えなかったものが見える「光波動場三次元顕微鏡」

光波動場三次元顕微鏡は、光波動場 (光の波の全ての情報) を利用した、全く新しいコンセプトの分析装置です。nmオーダーの透明な異物・欠陥を検出することができます。

応用分野：機能性フィルム、半導体、バイオメディカル、化学工業など

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製品特徴

・nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能
・1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得
・フォーカス不要で高速測定が可能
・非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能
・任意の面を高速でスキャンし測定位置の決定が容易

MINUKは、今まで見えなかったものが見えます！

・目視では見えない透明フィルム表面の傷や欠陥を数値化可能。
・透明フィルム内部のフィラーを観察できる。各深さでのフィラーの識別も可能。

MINUKは、サンプルを置くだけで瞬時に測定可能です！

・防振性が高い測定手法で、サンプルにフォーカスを合わせたり、サンプルを固定する手間が省ける。
・ワンショットで瞬時に三次元の情報が取得可能。

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