科学機器専門商社の株式会社ローラン

 1 最上位の角度分解能を実現する光学系と大容積の真空パス 

・Bragg-Brentano 集中法光学系における角度分解能は業界最上位の 0.021° (LaB6 1stピーク) で、非常にシャープかつ左右対称な回折ピークが得られます。

・大容積の真空パスを標準搭載し、極めて低いバックグラウンドを実現しました。

・追加真空パスである EVAC モジュールを搭載すれば、全ビームパスの 90％以上が真空になります。

・また EVAC モジュールは、小角 X 線散乱（SAXS）測定時にも使用されます。

 2 自動アライメント機能で誰でも熟練者のようにデータ収集 

・ダイバージェンススリット、ビームマスク、ソーラースリット、アンチスキャッタースリットなど、ほぼ全ての X 線オプティクスが自動でアライメントされるため、ミスアライメントを回避でき、常に最高の X 線強度で正確な回折データが得られます。

・集中法光学系から平行ビーム/集光ビーム光学系への変更も手を触れずに全自動で行えます。

・アントンパール独自の X 線源チルト角の自動調整機能を搭載しており、X 線源ターゲット金属の変更もお客様ご自身で行えるようになりました。

グリーンエネルギー革命により、エネルギー貯蔵及び変換材料の研究は、21世紀の大きな課題となっています。この課題に正面から取り組むための鍵となるのが、当社の装置です。

〈 アプリケーションレポート 〉

・in-situ X線反射率による有機半導体単分子膜の熱安定性の評価
・in-situ小角X線散乱法で解明するリチウム空気電池のナノスケール相変化
・AFM及びGIWAXSによる非フラーレン系有機太陽電池の相分離の解明

ポリマー、触媒、顔料、農薬など、どのような分野であっても、化学物質の特性評価と組成の最適化は、製品に求められる品質を確実に満たすための重要な要素です。アントンパール社のX線解析装置は、お客様の研究を次のレベルに引き上げることができます。

〈 アプリケーションレポート 〉

・微量CO2回収のための疎水性フレームワーク材料の非大気下でのin-situ XRD測定
・in-situ X線回折によるフィッシャー・トロプシュ触媒のコバルト還元と炭化物形成のモニタリング
・メソポーラス材料の構造特性評価

X線解析の技術は、原薬の特性評価から、保存・安定性試験、品質管理に至るまで、医薬品の開発、処方、製造の各工程を理解し、最適化する上で重要な役割を果たします。

〈 アプリケーションレポート 〉

・粉末X線回折によるトレハロースの温度制御下での湿度研究
・ラボ用SAXS装置を用いたHSAタンパク質のインラインSEC-SAXS
・生体試料分析のためにSAXSとUV/Vis測定を組み合わせるメリット

ナノマテリアルとその特殊な化学的及び物理的特性は、ほぼすべての科学分野で多大な関心を集めています。X線解析技術は、これらの材料研究に最適であり、新しい特性の背後にある構造的特徴をより深く理解することができます。

〈 アプリケーションレポート 〉

・TTK 600を用いたチオールキャップのAuナノ粒子の焼結挙動の評価
・in-situ高温X線回折法によるCuOナノワイヤーの形成過程のモニタリング
・完全な球体: 単分散の中空SiO2の研究

鉱物とセラミックスはどちらも、栄養補助食品からハイエンドの電子機器まで、実に様々な用途に使われています。X線分析法は、手元のサンプルの化学的及び構造的特性を知る上で非常に重要な手法です。

〈 アプリケーションレポート 〉

・in-situ XRDを用いた塩の鉱物組成に対するガスと湿度の影響評価 

鉱業や金属生産の分野におけるX線分析法は、鉱石の品質管理、生産プロセスの最適化、最終製品の特性評価などに利用できます。

〈 アプリケーションレポート 〉

・鋼の機械的特性に対する焼戻し温度の影響: in-situ X線回折法による研究

セメント、その前駆体、原材料の化学的及び鉱物学的組成に関する知見は、製造プロセスを最適化し、製品の品質を守る上で重要なものです。X線分析法は、相の組成や比表面積を測定し、様々なプロセス(水和や脱水など)をin-situでモニタリングすることができます。

〈 アプリケーションレポート 〉

・ラーナイト型構造を持つNaSrVO4の高温挙動と多形性