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ナノ3D光干渉計測システムVS1800

ナノ3D光干渉計測システムVS1800

「ISO 25178*パラメータ比較ツール」を標準搭載。
簡単・適切な試料評価によりお客様の解析業務を支援するとともに、これまで培ってきた三次元測定性能により、高精度・高分解能な表面形状計測を実現します。
*三次元表面粗さの国際規格

メーカー
株式会社日立ハイテクサイエンス
カテゴリ
  • ラボ用分析機器
  • 電磁気分析装置
製品の特長

・広範囲でナノオーダーの測定が可能な高い測定性能
・直感的で使いやすいインターフェイス
・簡単計測を支援するISO 25178パラメータ比較ツール
・柔軟な導入が可能なハードウェアアップグレード

ローランおすすめポイント

当社代理店製品です。ご選定の際に、目的に応じた機器の選定やアプリケーション情報をご紹介させていただきます。

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