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大型高度加速寿命試験装置 HASTチャンバー

大型高度加速寿命試験装置 HASTチャンバー

より大きな試料に対応しています。
機械式扉ロック機構/扉ロックセーフティ機構を標準で装備しています。

半導体向け各種試験規格への対応
IEC 60068-2-66
 小型の電気・電子部品(主に非気密封止部品) 不飽和
IEC 60749-4
 半導体デバイス 不飽和
EIAJ ED-4701   
 半導体デバイス 不飽和
JESD22-A110E  
 気密封止(中空でない)デバイス 不飽和
JESD22-A102E  
 非気密封止IC、ディスクリートデバイス 飽和

メーカー
エスペック株式会社
カテゴリ
  • 試験機器
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